# 水素分子イオンの電子励起状態における電荷移動：Eyring・Walter・Kimball 1944年モデルの解析
> Charge Migration in Eyring, Walter and Kimball's 1944 Model of the Electronically Excited Hydrogen-Molecule Ion.


## 要約

Eyring・Walter・Kimball（EWK）は1944年に水素分子イオン（H₂⁺）の電子構造の変分的解析において、電荷移動（CM）現象を偶発的に発見した。電子が基底状態と第一励起状態の重ね合わせとして初期局在化される場合、電子確率密度（EPD）は周期T＝550.9 asで両陽子間を断熱的に振動することを示す。本研究ではEWKモデルから電子フラックス密度（EFD）の解析式を導出し、電荷移動の経路と時空間対称性を明らかにした。多電子系と異なり、H₂⁺のCMは電子相関ではなく量子干渉のみに起因することが示された。

### メカニズム

基底状態と第一励起電子固有状態の量子干渉により、電子が両陽子間を周期550.9 asで断熱的に振動する電荷移動が生じる。

## 書誌情報

- **著者**: Diestler DJ, Hermann G, Manz J
- **ジャーナル**: J Phys Chem A
- **発行年**: 2017 (2017-07-20)
- **PMID**: [28633524](https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/28633524/)
- **DOI**: [10.1021/acs.jpca.7b04714](https://doi.org/10.1021/acs.jpca.7b04714)
- **研究タイプ**: その他
- **投与経路**: 不明
- **効果**: 評価対象外

## 投与経路に関する解説

投与経路の特定が困難な研究です。水素摂取の経路として吸入が最も効率的とされますが、吸入応用にあたっては爆発リスクに注意が必要です（LFL 実証値 10%、高濃度機は非推奨）。

## 安全性注意

投与経路の特定が困難な研究です。水素摂取の経路として吸入が最も効率的とされますが、吸入応用にあたっては爆発リスクに注意が必要です（LFL 実証値 10%、高濃度機は非推奨）。

詳しくは:
- [吸入時の濃度と LFL/UFL](https://h2-papers.org/safety-notes/inhalation-concentration)
- [消費者庁事故事例](https://h2-papers.org/safety-notes/accident-cases)

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> **引用形式**: H2 Papers — PMID 28633524. https://h2-papers.org/papers/28633524
> **Source**: PubMed PMID [28633524](https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/28633524/)