EnglishMarkdown 版を表示

慢性的な水素ガス吸入による敗血症関連の短期・長期記憶障害の軽減

Chronic molecular hydrogen inhalation mitigates short and long-term memory loss in polymicrobial sepsis.

動物実験 吸入 有効

要約

敗血症では中枢神経系が早期から影響を受け、全身性炎症メディエーターが海馬や前頭前皮質に到達して神経炎症を引き起こし、記憶障害が生じる。本研究では多菌性敗血症モデルを用い、慢性的な水素ガス吸入が短期・長期記憶障害を軽減するか検討した。結果として、慢性H2吸入は記憶障害を抑制し、急性H2吸入は海馬・前頭前皮質における神経炎症を低下させるとともに、抗酸化・抗炎症遺伝子群を制御する転写因子Nrf2の総タンパク量を増加させることが示された。

メカニズム

H2吸入が海馬・前頭前皮質の神経炎症を抑制し、Nrf2タンパク発現を増加させることで抗酸化・抗炎症遺伝子群の発現を調節し、記憶障害を軽減する。

書誌情報

著者
Jesus AA, Passaglia P, Santos BM, Rodrigues-Santos I, Flores RA, Batalhão ME ほか
ジャーナル
Brain Res
発行年
2020 (2020-07-15)
PMID
32348775
DOI
10.1016/j.brainres.2020.146857

タグ

疾患・症状:認知機能低下 敗血症 投与経路:吸入投与 メカニズム:アポトーシス抑制 炎症抑制 Nrf2 経路 酸化ストレス

投与経路に関する解説

水素吸入応用にあたっては、LFL(爆発下限濃度)の取り扱いに注意が必要です。古典的な 4% は閉鎖系の値であり、吸入環境での実証値は 10%。100% 純水素出力(UFL 75% パラドックス)でも境界面で爆発範囲を通過します。高濃度(66% / 100%)吸入器は消費者庁事故情報データバンクに事故事例があり、推奨できません。

安全性注意

水素吸入応用にあたっては、LFL(爆発下限濃度)の取り扱いに注意が必要です。古典的な 4% は閉鎖系の値であり、吸入環境での実証値は 10%。100% 純水素出力(UFL 75% パラドックス)でも境界面で爆発範囲を通過します。高濃度(66% / 100%)吸入器は消費者庁事故情報データバンクに事故事例があり、推奨できません。

詳しくは:

同じ疾患・症状を扱った論文

引用形式: H2 Papers — PMID 32348775. https://h2-papers.org/papers/32348775
Source: PubMed PMID 32348775